工頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

GDAT-A型介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀遵從標(biāo)準(zhǔn)：GB/T5594.4-1985/GB/T 1409用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

一、介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀儀器的技術(shù)指標(biāo)

1．Q值測(cè)量

a．Q值測(cè)量范圍：5～999。

b．Q值量程分檔：30、100、300、999、自動(dòng)換檔。

c．標(biāo)稱誤差

      頻率范圍：25kHz～10MHz；

      固有誤差：≤5％±滿度值的2％；工作誤差：≤7％±滿度值的2％；

      頻率范圍：10MHz～50MHz；

      固有誤差：≤7％±滿度值的2％；工作誤差：≤10％±滿度值的2％。

2．電感測(cè)量

a．測(cè)量范圍：0.1μH～1H。

b．分    檔：分七個(gè)量程。

      0.1～1μH，    1～10μH，    10～100μH，

      0.1～lmH，     1～10mH，     10～100mH，   100 mH～1H。

3．電容測(cè)量

a．測(cè)量范圍：1～460pF(460pF以上的電容測(cè)量見(jiàn)使用規(guī)則)；

b．電容量調(diào)節(jié)范圍

      主調(diào)電容器：40～500pF；

      準(zhǔn)  確  度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；

      微調(diào)電容量：－3pF～0～＋3pF；

      準(zhǔn)  確  度：±0.2pF。

4．振蕩頻率

a．振蕩頻率范圍：25kHz～50MHz；

b．頻率分檔：

25～74kHz，    74～213kHz，    213-700kHz，    700kHz～1.95MHz，

1.95MHz～5.2MHz，    5.2MHz～17MHz，    17～50MHz。

c．頻率誤差：2×10-4±1個(gè)字。

5．Q合格指示預(yù)置功能，預(yù)置范圍：5～999。

6．儀器正常工作條件

a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

b．相對(duì)濕度：<80％；

c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。   

7．試樣尺寸

圓片形：厚度2+0.5mm，直徑為Φ30~40mm（ε<12時(shí)），Φ25~35mm（ε=12~30時(shí)），Φ15~20mm（ε>30時(shí)）

8．其他

a．消耗功率：約25W；

b．凈重：約7kg；

c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

二、介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀實(shí)驗(yàn)步驟：

1．本儀器適用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流電，使用前要檢查市電電壓是否合適，采用穩(wěn)壓電源，以保證測(cè)試條件的穩(wěn)定。

2．開(kāi)機(jī)預(yù)熱15分鐘，使儀器恢復(fù)正常狀態(tài)后才能開(kāi)始測(cè)試。

3．按部件標(biāo)準(zhǔn)制備好的陶瓷試樣，兩面用燒滲法被上銀層，并分別焊上一根Φ0.8mm，30~40mm長(zhǎng)的金屬引線。引線材料為銅，表面鍍銀并浸錫。

4．選擇適當(dāng)?shù)妮o助線圈插入電感接線柱。根據(jù)需要選擇振蕩器頻率，調(diào)節(jié)測(cè)試電路電容器使電路諧振。假定諧振時(shí)電容為C1，品質(zhì)因素為Q1。

5． 將被測(cè)樣品接在“CX”接線柱上。

6．再調(diào)節(jié)測(cè)試電路電容器使電路諧振，這時(shí)電容為C2，可以直接讀出Q2，并且Q2= Q1－△Q，。

7．用游標(biāo)卡尺量出試樣的直徑Φ和厚度d（分別在不同位置測(cè)得兩個(gè)數(shù)據(jù)，再取其平均值）。

8.方形式樣按其邊長(zhǎng)的4倍計(jì)算Φ值 

三、介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀注意事項(xiàng)：

1．圓片形試樣的尺寸（Φ=38mm+1mm，d=2mm+0.5mm）要符合公差要求，兩面燒滲銀層、浸錫及焊接引出線要符合技術(shù)條件。

2．電壓或頻率的劇烈波動(dòng)常使電橋不能達(dá)到良好的平衡，所以測(cè)定時(shí)，電壓和頻率要求穩(wěn)定，電壓變動(dòng)不得大于1%，頻率變動(dòng)不得大于0.5%。

3．電極與試樣的接觸情況，對(duì)tanδ的測(cè)試結(jié)果有很大影響，因此燒滲銀層電極要求接觸良好、均勻，而厚度合適。

4．試樣吸濕后，測(cè)得的tanδ值增大，影響測(cè)量精度，應(yīng)嚴(yán)格避免試樣吸潮。

5．在測(cè)量過(guò)程中，注意隨時(shí)檢查電橋本體屏蔽的情況，當(dāng)電橋真正達(dá)到平衡，“本體-屏蔽”開(kāi)關(guān)置于任何一邊時(shí)，檢查計(jì)光帶均應(yīng)zui小，而無(wú)大變化

四、介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

附表一  LKI-2電感組，GDAT-C選配電感